納米粒度電位儀是一種用于化學領域的分析儀器,主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態光散射(DLS)等技術,該儀器能夠準確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布,同時測定顆粒表面的Zeta電位,從而了解顆粒的穩定性和表面電荷情況。
納米粒度電位儀利用動態光散射原理,通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當激光束照射到顆粒樣品上時,顆粒會散射光,散射光的強度與顆粒的大小和數量有關。通過分析散射光的波動情況,可以得到顆粒的粒徑分布信息。
1、精準的粒度測量能力:
廣泛的測量范圍:能夠測量從幾納米到幾百納米不等的納米級顆粒的大小范圍,滿足了各種納米材料尺寸測量的需求。
高準確度:結合先進的激光散射技術,該儀器能夠精確測定納米級顆粒的大小,為科研和工業生產提供準確的數據支持。
2、高靈敏度的Zeta電位測量功能:
廣泛的測量范圍:其Zeta電位測量范圍可達-600mV至+600mV,具有較高的靈敏度,能夠準確反映顆粒表面的電荷情況。
重要意義:Zeta電位對于研究顆粒的分散性和穩定性具有重要意義,通過測量Zeta電位可以了解顆粒在溶液中的分散狀態和穩定性,為材料的制備和應用提供指導。
3、非侵入性測量方式:
避免污染和干擾:采用非侵入性的測量方法,無需操作者與樣品接觸,避免了污染和干擾,確保了測量結果的準確性和可靠性。
減少操作難度和勞動強度:這種測量方式不僅提高了測量的準確性,還減少了操作者的操作難度和勞動強度,使測量過程更加簡便快捷。
4、快速分析能力:
自動化測量模式:該儀器采用自動化測量模式,能夠在短時間內獲取大量樣本的數據,提高了工作效率。
及時掌握關鍵信息:快速分析的能力使得科研工作者和工業生產人員能夠迅速掌握樣品的關鍵信息,為決策和生產提供及時的數據支持。
5、操作簡便性:
易于上手:其操作十分簡單,不需要過多的專業知識,即可進行測量。這一特點使得該儀器在科研和工業生產中得到了廣泛的應用。
降低培訓成本:由于操作簡單,降低了對操作人員的培訓成本和時間成本,使得更多的人能夠快速掌握并使用該儀器。
6、廣泛的應用領域:
適用于多種材料:適用于分析乳液、懸浮液、蛋白質等樣品的粒徑、Zeta電位及分子量等參數,可廣泛應用于納米材料、生物醫學、化學化工等領域的研究和開發。
推動科技進步:隨著科技的不斷進步和應用需求的不斷增長,納米粒度電位儀的應用前景將更加廣闊,為推動相關領域的科技進步做出更大的貢獻。